Risk Methodologies for Technological Legacies
Dennis C. Bley, James G. Droppo, Vitaly A. Eremenko
- *"Щанд" наричаме търговец, който предлага книгата за продажба в сайта "Книжен пазар".
- **"Град" наричаме селище, от което търговецът ще изпрати книгата до вас.